Hanisch J., Schultz L., Huhne R., Usoskin A., Pahlke P., Sieger M., Stromer J., Chekhonin P., Skrotzki W.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, IBAD process, RABITS process, comparison, PLD process, microstructure, local distribution, texture
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, PLD process, doping effect, nanoscaled effects, critical temperature, microstructure, fabrication, X-ray diffraction
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.